SR20 Film Thickness Measuring Instrument

SR20 薄膜厚度测量仪

测量厚度从 15nm 到 100μm 的膜厚测量系统

采用光谱反射技术,可精确测量厚度与反射率,实现快速、无损、高性价比的薄膜监控。

SR20 薄膜厚度测量仪

15nm-100μm

厚度测量范围

0.02nm

测量精度

1s

单次测量

130+

内置材料数据库

产品概述

一套设备,满足多种测量需求

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是材料的反射率和透过率,SR20 都能满足您的需求。设备支持桌面式与在线测量,适用于平面或弯曲表面,尤其擅长半透明及低吸收系数薄膜的非接触检测,广泛服务于半导体、液晶显示、光学镀膜、生物医疗等领域。

不损伤样品

秒级测量速度

纳米级测量精度

极高性价比

应用范围广

产品特点

为高效测量而生

01

测量速度快且操作简便

得益于直观的软件界面,用户只需点击按钮,系统即可在数秒内完成测量并输出结果,适合生产线上的快速检测。设备安装简单,连接 USB 即可使用。

02

宽泛的测量范围与精度

根据不同型号配置,可测量从 15nm 到 100μm 的薄膜厚度,准确度可达 2nm 或厚度的 0.2%(取较大值),精度高达 0.02nm,满足高精度工艺监控需求。

03

模块化与多功能性

设备采用模块化设计,支持多种附件。可测量单层或多层膜堆、平面或曲面基底,甚至是液态或气态薄膜。用户可利用内置的包含 130 多种材料的数据库进行建模分析。

04

强大的分析软件与支持

厂商提供 24 小时电话和电子邮件技术支持,同时配备强大的数据处理和分析软件,方便用户在未连接设备的情况下处理数据。

行业应用

覆盖多个行业场景

SR20 膜厚仪适用于几乎所有光滑的、透明或半透明的、低吸收系数的薄膜——这几乎包括了所有的电介质与半导体材料。

半导体

消费电子

AR/VR

派瑞林

电路板与微电子

显示与光电行业

光学镀膜

生物医学与医疗器械

半导体与微电子 显示行业与光电 光学镀膜 生物医疗
光刻胶 SU-8 PI AR Coating 派瑞林
SiO₂ / Si₃N₄ ITO TiO₂ / SiO₂ 心脏支架涂层
非晶硅/多晶硅 空气盒厚 滤光片 药物涂层
蚀刻速率与均匀性 有机电致发光材料 AlQ 硬涂层(DLC) 球囊导管表面涂层
产品规格参数

技术规格

产品规格参数 SR20 SR20-UV
基本规格
波长范围 297nm - 1050nm 194nm - 1050nm
光源 卤钨灯 外置氘灯 + 卤钨灯
厚度测量范围* 15nm - 100μm 1nm - 100μm
测量规格
准确度*(取较大者) 2nm 或 0.2% 1nm 或 0.2%
测量精度 0.02nm
稳定性 0.05nm
光斑大小 1.5mm
测量速度 1s(单次测量)
灯泡寿命 1200 小时
基本要求
电源 5V, 3A
通信接口 USB Type-C

* 取决于材料

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