高精度膜厚测量专家

精准测量
智控未来

竖亥精密仪器专注于高精度膜厚测量仪器的研发与制造,为半导体、消费电子、显示面板等行业提供领先的检测解决方案

我们的产品

高精度膜厚测量仪器

采用先进的测量技术,为您的生产质量保驾护航

SR20 膜厚仪
SR20 标准型

SR20 薄膜厚度测量仪

采用光谱反射技术,可精确测量薄膜厚度与反射率,实现快速、无损、高性价比的薄膜监控。

  • 测量范围:15nm - 100μm
  • 测量精度:高达 0.02nm
  • 单次测量仅需 1 秒
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SR50 膜厚仪
SR50 专业型

SR50 自动薄膜厚度绘图系统

晶圆级自动化薄膜厚度绘图系统,搭载 R-θ 极坐标移动平台,实现从"点测量"到"面测绘"的飞跃。

  • 测量速度:每秒 2 个点
  • 支持最大 450mm 样品
  • 2D / 3D 厚度分布测绘
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解决方案

行业应用

针对不同行业提供专业的测量解决方案

光刻胶测量

半导体光刻胶工艺膜厚监测

晶圆封装

晶圆级封装厚度检测

CMP研磨

化学机械抛光厚度控制

硅片制造

硅片表面薄膜厚度测量

化合物半导体

GaAs、GaN等化合物薄膜

外延层

外延生长层厚度监测

AR/VR检测

光学镜片薄膜厚度分析

手机外壳

手机外壳涂层厚度检测

防水涂层

电子设备防水膜厚检测

锂电池

电池隔膜涂层厚度检测

电路板

PCB表面涂层厚度测量

智能穿戴

智能手表传感器薄膜

显示面板

OLED/LED面板膜厚检测

光学镀膜

镜头、滤光片薄膜测量

介质薄膜

SiO2、SiN等介质层

光伏电池

太阳能电池减反膜检测

常见问题

有问题?我们有答案

关于我们的产品和服务,您可能想了解的问题

SR50支持多波长测量和复杂的膜系分析算法,适合研发和高端制造需求,测量精度更高;SR20则是标准型号,适合常规膜厚测量,性价比较高。两者都具备高精度和稳定性,可满足不同客户的需求。

我们的膜厚仪测量范围为1nm至100μm,可以覆盖大多数工业应用场景,包括半导体、消费电子、光学镀膜等行业。对于特殊需求,我们可以提供定制化解决方案。

我们提供完整的校准套件和专业校准服务,可上门或寄回工厂进行校准。建议每6个月进行一次校准以确保测量精度。我们还提供年度维护计划,包括软件升级、技术支持和备件更换。

我们的膜厚仪支持USB、RS232、RS485和Ethernet接口,可轻松集成到现有的生产控制系统中。我们还提供SDK开发包,支持Windows和Linux系统,方便客户进行二次开发和系统集成。

标准型号通常在付款后2-4周内交货。定制型号或大批量订单可能需要更长时间,具体交期请咨询我们的销售团队。我们还提供加急服务,可根据客户需求灵活安排生产计划。

我们所有产品均提供12个月标准质保服务。质保期内非人为损坏可享受免费维修或更换。我们还可选购延保服务,最长可延长至36个月,让您的设备始终保持最佳状态。

是的,我们提供全面的技术培训服务。购买设备后,我们的工程师会提供现场操作培训,确保您的团队能够熟练使用设备。我们还提供在线培训视频和详细的使用手册,方便您随时学习。

当然可以!我们在上海设有技术展示中心,欢迎您预约参观。您可以携带样品前来测试,我们的技术工程师会为您提供专业的膜厚测量解决方案和现场演示服务。

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无论您有任何问题或需求,我们的专业团队随时为您提供支持和咨询服务